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Test equipment
Especialidad: Semiconductores
Agregar un término nuevoContribuidores con Equipo de pruebas
Test equipment
frecuencia alias
Semiconductores; Equipo de pruebas
Un componente de baja frecuencia falso que aparece en datos analógicos que se reconstruyeron de datos originales digitalizados en una velocidad de muestreo suficientemente alta.
modo de transferencia asíncrono (ATM)
Semiconductores; Equipo de pruebas
Una tecnología conmutación rápida de paquetes que utiliza asincrónica multiplexación por división de tiempo.
Diccionario de culpa
Semiconductores; Equipo de pruebas
Un diccionario de culpa contiene la misma información contenida en una lista de culpa, pero incluyen información acerca de cómo la culpa se manifiesta como la localización de errores y su efecto ...
culpa no observables
Semiconductores; Equipo de pruebas
Una falla se considera no observables si sus efectos no pueden medirse en cualquier salida de red.
lista de culpa
Semiconductores; Equipo de pruebas
Una lista de culpa que contiene todos los posibles fallos de consideración, pero no hay tal información cómo el fallo se manifiesta en diversas condiciones de circuito y condiciones de prueba.
filtro pasivo
Semiconductores; Equipo de pruebas
Un circuito de filtro utilizando sólo componentes pasivos como resistencias, condensadores y bobinas.
filtro de suavizado
Semiconductores; Equipo de pruebas
Un filtro que atenúa los componentes de ruido y de alta frecuencia de una señal analógica antes de su conversión en un valor digital.
