Test equipment

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Especialidad: Semiconductores

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plomo a portador de cerámica de la viruta (LDCC)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Un paquete de cerámico herméticamente cerrado que se lleva alrededor de su cara para la conexión de soldadura en un aplicación de montaje superficial. Normalmente, os paquetes que lleva más de ...

último en el primero en salir (LIFO)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Un dispositivo de memoria en el cual se leen datos en el orden inverso al que estaba escrito en.

local interconnect network (LIN)

Semiconductores; Equipo de pruebas

LIN es un protocolo de comunicaciones seriales unifilar basado en la interfaz común de byte-palabra SCI (UART). UART interfaces como disponible como módulo de silicio de bajo costo sobre casi todo ...

baja frecuencia (LF)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Baja frecuencia en EMC es aproximadamente 30-300 kHz.

Hertz

Semiconductores; Equipo de pruebas

(h minúscula, pero abreviado Hz) La unidad de frecuencia. Anteriormente cps para ciclos por segundo.

Logística soporta el análisis (LSA)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Sistemas de un proceso de ingeniería y diseño aplicado selectivamente durante todas las fases del ciclo de vida del sistema/equipo para ayudar a asegurar el cumplimiento de los objetivos de ...

Logística soporta grabación de análisis (LSAR)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Esa parte de la documentación de LSA consiste en datos detallados relativos a la identificación de necesidades de recursos de apoyo logístico de un equipo.