Test equipment

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Especialidad: Semiconductores

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Test equipment

frecuencia alias

Semiconductores; Equipo de pruebas

Un componente de baja frecuencia falso que aparece en datos analógicos que se reconstruyeron de datos originales digitalizados en una velocidad de muestreo suficientemente alta.

modo de transferencia asíncrono (ATM)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Una tecnología conmutación rápida de paquetes que utiliza asincrónica multiplexación por división de tiempo.

Diccionario de culpa

Semiconductores; Equipo de pruebas

Un diccionario de culpa contiene la misma información contenida en una lista de culpa, pero incluyen información acerca de cómo la culpa se manifiesta como la localización de errores y su efecto ...

culpa no observables

Semiconductores; Equipo de pruebas

Una falla se considera no observables si sus efectos no pueden medirse en cualquier salida de red.

lista de culpa

Semiconductores; Equipo de pruebas

Una lista de culpa que contiene todos los posibles fallos de consideración, pero no hay tal información cómo el fallo se manifiesta en diversas condiciones de circuito y condiciones de prueba.