Test equipment

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Especialidad: Semiconductores

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Test equipment

distorsión por Intermodulación (IMD)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Una medida de las señales espurias resultantes no deseado multiplicación de diferentes señales de entrada. Este efecto es contribuido por no linealidades en el sistema. Otra vez, pesado ...

no linealidad integral (INL)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Una medida de la desviación de la función de la transferencia de un convertidor de datos de una línea recta ideal con offset y ganancia cero fuera peor.

propiedad intelectual (IP)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Función lógica predefinidas que puede ser utilizada por los diseñadores para acelerar el ciclo de diseño.

El protocolo en TCP/IP que rige la desintegración de los mensajes de datos en paquetes, el enrutamiento de los paquetes de remitente de estación y red de destino y el reensamblaje de los paquetes en ...

exploración del registro de instrucción

Semiconductores; Equipo de pruebas

(Exploración de IR) - una operación que incluye desplazamiento nuevos datos en los registros de la instrucción de los almacenadores intermediarios del TDI y desplazamiento capturado datos hacia fuera ...

Análisis de la mutación (MA)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Un campo de la informática con la mutación del código fuente presentando declaraciones o modificando las declaraciones existentes en pequeñas formas. Las mutaciones se basan en los operadores de ...

epitaxia moleculares (MBE)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Una técnica para crear películas delgadas sobre substratos en patrones precisos, en el cual el sustrato se coloca en un alto vacío y un rayo guiado de moléculas ionizadas se disparó, efectivamente ...