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Test equipment

Contribuidores con Equipo de pruebas

Test equipment

susceptibilidad

Semiconductores; Equipo de pruebas

La característica de los equipos electrónicos que permite respuestas indeseables cuando el equipo se somete a la radiación electromagnética.

captura de error

Semiconductores; Equipo de pruebas

La colección de un grupo especificado de vectores funcionales si se detecta un error funcional.

recopilación de datos

Semiconductores; Equipo de pruebas

La colección de información seleccionada en un archivo durante una operación especificada.

crominancia

Semiconductores; Equipo de pruebas

La parte de color de una señal de vídeo que define el matiz y saturación, pero no el brillo o luminancia de la señal.

cono de la lógica

Semiconductores; Equipo de pruebas

La lógica combinatoria en un circuito que tiene un punto solo observar.

acoplamiento cruzado

Semiconductores; Equipo de pruebas

El acoplamiento de una señal de un canal, circuito o conductor a otro, donde se convierte en una señal no deseada.

defectos por millón (DPM)

Semiconductores; Equipo de pruebas

El nivel de defecto en las piezas defectuosas por millón de unidades.

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