Difracción de electrones sosegado (EBSD) se realiza con el microscopio electrónico (SEM) para proporcionar una amplia gama de datos analíticos, como de los estudios de orientación cristalográfica, identificación de fase y grano mediciones de tamaño (cristal). Patrón de una difracción puede obtenerse en menos de un segundo, pero es mejorar la calidad de imagen mediante el uso de un tiempo de análisis. Asignación de grano requiere el desarrollo de la difracción de patrones en cada píxel en el campo y es un proceso mucho más lento. La calidad del patrón de difracción, que influye en la confianza de la indexación del patrón de difracción, depende de la eliminación de daños en la red debido a la preparación de la muestra. Se ha afirmado que la eliminación de este daño sólo puede lograrse mediante pulido electrolítico o ion-haz pulido.

Sin embargo, métodos de preparación mecánica moderna, equipos y consumibles producen patrones de difracción de excelente calidad sin el uso de electrolitos peligrosos y los problemas y limitaciones asociadas con electropulido y pulido de haz de iones. Si la estructura de resultados de preparación mecánica en imágenes de luz polarizada de calidad de cristal noncubic elementos y aleaciones (por ejemplo, Sb, ser, Hf, α-Ti, Zn, Zr), o grabado de matiz de color de elementos de estructura de cristal cúbico o noncubic o aleaciones produce imágenes en color de alta calidad, entonces la superficie esté libre de daños nocivos preparación residual y patrones EBSD con índices de patrón alta calidad se va a obtener.