Test equipment

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Especialidad: Semiconductores

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Módulo de conmutación de JTAG (JSM)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Un interruptor de multiplexación, permitiendo que un solo puerto de acceso de prueba a utilizarse para operar uno de un número de cadenas de exploración.

Administrador de protocolo JTAG (JTAG-PM)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Esta es la interfaz de hardware entre el microprocesador y la infraestructura de exploración del límite en el tablero, entrega y recepción de las señales de bajo nivel JTAG protocolo y las ...

frecuencia del oscilador local (LO)

Semiconductores; Equipo de pruebas

El oscilador genera la frecuencia heterodyning para las fases de mezclador. La abreviatura LO también se utiliza para indicar la frecuencia de la señal heterodyning (e.g. LO 1 º). En mezcladores ...

modelado de la lógica

Semiconductores; Equipo de pruebas

(LogMod) - el nombre usado por Ralph A. Depaul, Jr. para referirse a las causales de modelado técnica que inventó en los años 50 y que más tarde se conocería como modelo de dependencia.

pérdida de la vida (LOL)

Semiconductores; Equipo de pruebas

La medida de la probabilidad de un fracaso causando la pérdida de vida y se especifica como una criticidad de nivel 5 en el FMECA.

pérdida de la misión (LOM)

Semiconductores; Equipo de pruebas

La medida de la probabilidad de un fracaso causando pérdida de misión o la operación y se especifica como una criticidad de nivel 3 en el FMECA.

nivel de análisis de reparación (LORA)

Semiconductores; Equipo de pruebas

Una metodología analítica usada para ayudar en el desarrollo de conceptos de mantenimiento y establecer el nivel de mantenimiento en el cual componentes serán reemplazados, reparados o desechados ...