Test equipment

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Especialidad: Semiconductores

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culpa paramétrica

Semiconductores; Equipo de pruebas

Cualquier avería causada por una variación paramétrica o proceso fuera de tolerancia o valores nominales se llama un fallo suave.

filtro

Semiconductores; Equipo de pruebas

Una operación que elimina selectivamente el ruido de una señal. Filtros electrónicos incluyen paso bajo, paso banda y paso alto tipos. Filtros matemáticos pueden operar con datos para extraer ...

Aunque fuera del alcance de este Glosario.

Semiconductores; Equipo de pruebas

Técnica DFT donde un pin de salida está envuelto en su entrada (o la entrada de otro pin). Esto puede permitir que algunas pruebas de pernos que no son contactados directamente por el probador. ...