Test equipment

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Especialidad: Semiconductores

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exploración del límite

Semiconductores; Equipo de pruebas

Término genérico para IEEE 1149.1. Es una metodología que permite completa controlabilidad y observabilidad de la frontera pasadores (entrada-salida) vía un interfaz estándar. (AKA JTAG)

conversión de analógico a digital

Semiconductores; Equipo de pruebas

El proceso que transforma una señal analógica en un valor digital de magnitud.

conversión de digital a analógico

Semiconductores; Equipo de pruebas

El proceso que convierte valores discretos en un voltaje o corriente.

relación señal a ruido (SNR)

Semiconductores; Equipo de pruebas

La proporción del total de la señal a ruido expresado en decibelios (dB). Cuanto mayor sea el número, mejor. SNR es calculado por el SNR = 20 log (SignalRMS / NoiseRMS) una unidad relacionada ...

registro de datos

Semiconductores; Equipo de pruebas

La grabación de información seleccionada durante una operación especificada, por ejemplo, datos registrados durante una dispositivo de prueba.

contrapeso

Semiconductores; Equipo de pruebas

La porción del plano de referencia (no conectado a tierra o conectado a tierra) de una antena desequilibrada.

campo lejano

Semiconductores; Equipo de pruebas

La región en la que la densidad de flujo de potencia de una antena obedece a la ley del cuadrado inverso. Para una antena dipolo, distancias más allá de l/2 son regiones de campo lejano.