Ion centrado haz mecanizado (FIBM), también denominada haz de iones focalizado de fresado, proporciona una herramienta para el procesamiento de materiales en la escala de nanómetros. Permite la eliminación selectiva de cantidades diminutas de la materia con alta resolución espacial de una manera controlada precisamente que hasta ahora era imposible.

Enfocado ion instrumentos mecanizados de la viga se han desarrollado en la Universidad y los laboratorios de investigación industrial en los últimos 25 años y han sido comercialmente disponibles desde mediados de la década de 1980. Funcionalmente, los instrumentos son similares a un convencional microscopio electrónico (SEM), pero utilizar una fuente intensa de iones en lugar de un emisor de electrones. Imaging, como en un análisis electrón microscopio, se realiza mediante el barrido de la viga de píxel a píxel por toda la superficie de un espécimen en un patrón de trama. Sin embargo, en había centrado haz ion mecanizado ambos electrones secundaria y secundarios iones pueden recopilarse para formar una imagen. Proporciona información de contraste de imagen adicionales cuando el instrumento está funcionando como un microscopio de ion (SIM). Deposición de realización o aislantes en las áreas seleccionadas con resolución de nanómetros también puede hacerse en el mismo instrumento. Combinando centrado ion haz coincidencia con haz de iones focalizado deposición (FIBD) proporciona un medio para ultraprecision fabricación, modificación y patrones de materiales. Instrumentos también han desarrollado que proporcionan capacidades duales de electrones y iones, mediante un haz de electrones para imágenes y un haz de iones centrados para el mecanizado y la deposición.